一.分析原理
X射線熒光光譜儀的工作原理是：原子經X射線激發，會發射出特征X射線。
測量特征譜線的能量或波長，可進行定性分析，測量譜線密度，與標準物質做對比計算，即可進行定量分析。
特征X熒光的產生過程
1.受到外界激發，電子吸收能量
2.電子逃逸
3.能級躍遷，以x射線的方式釋放能量
即使同樣的元素也會發生有不同的能量的X射線熒光
我們把外層躍遷到第一層釋放的一系列射線叫K系，把躍遷到第二層釋放的射線叫L系，第三層叫M系······
例如第二層躍遷到第一層叫Ka線，第三層躍遷到第一層叫Kβ，第三層躍遷到第二層叫La，第四層躍遷到第二層叫Lβ······
技術指標
元素分析范圍從硫（S）到鈾（U）
分析檢出限可達1ppm
分析含量一般為1ppm到99.99％
任意多個可選擇的分析和識別模型
相互獨立的基體效應校正模型
多變量非線性回歸程序
溫度適應范圍為15℃至30℃
電源：交流220V±5V,建議配置交流凈化穩壓電源
能量分辨率：160±5eV
外觀尺寸： 550×416×333mm
樣品腔尺寸：460×298×98mm
重量：45Kg
應用領域
RoHS檢測分析
地礦與合金（銅、不銹鋼等）成分分析
金屬鍍層的厚度測量、電鍍液和鍍層含量的測定
黃金，鉑，銀等貴金屬和各種首飾的含量檢測
